Willkommen! Anmelden Ein neues Profil erzeugen

Erweiterte Suche

Re: Bonntec Imaging

Juelich-Logo

 
Impressum
 
Forumregeln
 
Lupen
Mikroskope
Schulung
Messtische
Mess-Software
Mikroskopierdienst
Mikroskopservice
Sonderanfertigungen
 
Ferngläser
Spektive
Teleskope
Globen
 
Sonderposten
Veranstaltungen
Forum
Testberichte
 
AGB
Impressum
Haftungsauschluss
Datenschutzerklärung
Kontakt

 

Norbert Jäger
06. Dezember 2007 19:47
Könnte man mit Ihrer Software Siebrückstände auswerten?
Wir arbeiten zur Zeit mit einem Auflichtmikroskop bei 40facher Vergrößerung, die Klassifizierung erfolgt mehr oder weniger manuell.
Die Siebe haben einen Durchmesser von 72mm, also arbeiten wir mühsam in Teilbildern. Wenn man durch Zusammenfügen der Bildteile ein vollständiges Bild bekommen könnte, dann wäre uns schon sehr geholfen.
Norbert Jäger
Thema Autor Klicks Datum/Zeit

Bonntec Imaging

Klaus Kügler 2921 14. November 2007 21:23

Re: Bonntec Imaging

Werner Jülich 1123 24. November 2007 17:13

Re: Bonntec Imaging

Fritz Leyendecker 1229 25. November 2007 11:01

Re: Bonntec Imaging

Werner Jülich 931 25. November 2007 15:28

Re: Bonntec Imaging

Fritz Leyendecker 999 25. November 2007 17:32

Re: Bonntec Imaging

Werner Jülich 1072 25. November 2007 18:19

Re: Bonntec Imaging

Norbert Jäger 1088 06. Dezember 2007 19:47

Re: Bonntec Imaging

Werner Jülich 1046 07. Dezember 2007 09:22

Re: Bonntec Imaging

Norbert Jäger 1071 07. Dezember 2007 10:00

Re: Bonntec Imaging

Werner Jülich 1034 07. Dezember 2007 14:10

Was kann die Timerfunktionen?

Sebastian Gohlke 1042 03. Februar 2008 12:23

Re: Was kann die Timerfunktionen?

Werner Jülich 999 03. Februar 2008 15:14



In diesem Forum dürfen leider nur registrierte Teilnehmer schreiben.

Klicken Sie hier, um sich einzuloggen